中红外漫反射光谱法测定CL-20晶型含量

摘要

采用中红外漫反射光谱技术结合化学计量学偏最小二乘法(PLS)建立了ε-CL-20产品中α-CL-20、γ-CL-20、ε-CL-20的定量校正模型,并对模型进行了交互验证和外部验证.结果表明:三种模型具有较高的准确度和精密度,交互验证决定系数(R2)分别为0.9973、0.9714、0.9848,交互验证标准偏差(RMSECV)分别为0.222％、0.650％、0.670％;外部验证预测标准偏差(RM-SEP)分别为0.422％、0.813％、1.02％,配对t检验结果表明预测值与真值之间无显著性差异.基于上述模型的晶型定量分析方法适用于ε-CL-20的产品质量检验以及火炸药工艺过程、长贮过程中ε-CL-20的晶型稳定性研究.