超细碳化硅中游离碳的测定

摘要

通过加热氧化并电位滴定产生的ＣＯ２，分析超细碳化硅粉中游离碳，对部分碳化硅和游离硅同时被氧化的干扰，提出了新的校正方法和计算式，测定精度ＲＳＤ≤５．１％相对误差≤６．２％。