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测试与测量

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＜正＞解决超小型封装检测的VTEP技术安捷伦科技推出Agilent Medalist iVTEP（intelligent Vectorless Test Ex- tended Performance。智能无矢量测试技术）,减少了对引线框几何形状的依赖

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《电子设计技术》 |2006年第6期|152-152|共1页
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正文语种 chi
中图分类测试和检验;
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