用ICP—AES法分析钨合金的谱线选择和干扰校准

摘要

1.实验 (1)仪器 用JY38Plus ICP系统进行ICP—AES(电感耦合等离子体—原子发射光谱法)测定。操作条件见表1。用3030B型原子吸收光谱仪进行FAAS(炉原子吸收分光光度计)测定。用70—000型系统进行直流电弧AES法测定。