低渗储层含水饱和度测井评价研究

摘要

cqvip:由于储层受岩性、物性及孔隙结构等多种变化因素的影响,会表现出复杂的岩性或电性变化规律,增加了流体在储层孔隙中渗流的复杂性,本文探讨了该类型储层岩电参数的变化规律,根据对具体的储层岩电参数的研究,进行含水饱和度的计算。结合实际的井资料用两种方法计算了储层的含水饱和度,得出用西门度模型来计算饱和度是用于该地区储层的最优计算方法。