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韩伟; 王绍宗; 张倩; 田宇航;
机械科学研究总院先进成形技术与装备国家重点实验室 北京100044;
微米级颗粒; 粉体活性染料; 参数标定; 离散元模拟; 堆积角; 二阶回归模型;
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