纳米颗粒粒度分析的新进展--CPS高速离心式纳米粒度分析仪

熊向军

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纳米颗粒粒度分析的新进展--CPS高速离心式纳米粒度分析仪

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@@ 1测量原理rnCPS纳米颗粒粒度分析仪的示意图见图1,它采用的是差示沉淀法进行颗粒粒度的测量和分析.样品被注入到高速旋转的液体中,然后在离心力的作用下,样品被快速沉淀并通过检测头被检测并拾取.因为大小不同的颗粒到达检测头的时间不同,因此通过记录颗粒到达检测头的时间,就可以知道颗粒的大小,差式沉淀法的原理图如图2所示.

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来源
《中国粉体技术》|2004年第z1期|140-142|共3页
作者
熊向军;
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作者单位

荷兰安米德上海代表处,上海市中山西路,1800号5B,200235;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类一般性问题;
关键词
入库时间 2023-07-25 20:56:55

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