首页> 中文期刊> 《中国核科技报告》 >用H_α光谱测量研究MM-2装置中热电子等离子体性质

用H_α光谱测量研究MM-2装置中热电子等离子体性质

         

摘要

描述了简单磁镜装置MM-2中ECRH等离子体的H。面发光度的特性,与朗缪尔探针、X射线探测器、反磁探针等测量结果相结合,给出了MM-2装置中ECRH等离子体的H。发射时间特性及预电离特性等重要参数。结果表明,在热电子环建立之前,预电离期间已有H。谱的发射,而在热电子环破裂之后,冷等离子体的衰减时间常数比热电子环的衰减时间常数大,这与X射线方法测量的结果是一致的。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号