一种低成本高效率的PET闪烁晶体阵列时间性能检测方法与装置

摘要

目的:设计一种快速测量闪烁晶体阵列中每个晶条衰减时间常数的低成本检测方法,为保障正电子发射计算机断层显像(PET)探测器时间性能的一致性提供技术支持.方法:采用多通道光电倍增管(滨松H8500),结合电阻网络和4个通道的高速模拟数字转换器(ADC)采样电路及上位机算法,实现对上百根晶条的衰减时间常数信息的测量.结果:通过实验验证了测量结果的有效性和准确性,验证了用衰减时间常数间接估计闪烁晶条的符合时间分辨率(CTR)的可行性.结论:该装置可很好的应用于PET设备生产厂商探测器生产质量控制环节,保障PET探测器时间性能的一致性,也可应用于改善医学探测器时间性能的实验室研究.