基于VXI总线的高速数据测试模块硬件设计

周启忠; 顾亚平; 陈光(礻禹)

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基于VXI总线的高速数据测试模块硬件设计

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VXI高速数字测试模块主要用于数字板卡和数字系统的测试,也具有逻辑分析仪和数字信号发生器的功能.本文讲述了基于VXI总线的高速数据测试模块硬件电路设计.设计包括VXI总线接口电路,高速数据通道(FDC)传输电路,本地数据处理电路和64路可编程I/O电路.充分结合VXI消息基接口的优点,实现了高速数据测试;实时数据比较和故障诊断功能,并对设计过程存在的问题进行讨论.

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来源
《中国测试》 |2006年第3期|89-92|共4页
作者
周启忠; 顾亚平; 陈光(礻禹);
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作者单位

电子科技大学自动化工程学院,四川,成都,610054;

电子科技大学自动化工程学院,四川,成都,610054;

电子科技大学自动化工程学院,四川,成都,610054;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TP311.12;
关键词
VXI总线; 消息基; 字串行协议; 双端口RAM;

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