通用嵌入式测控系统开发平台研究

摘要

针对目前工业控制领域应用的嵌入式测控产品大多存在技术落后、通用性差的问题,提出基于ARM和DSP的通用嵌入式测控系统开发平台,将DSP的强大运算能力和新型单片机ARM处理器的强大控制能力结合在一起,能满足大多数中低速嵌人式测控系统的应用要求,由于其良好的通用性,在多个项目应用中均取得了较好的效果.