首页> 中文期刊> 《中国集成电路》 >浅谈SOP测编一体机Double Unit的预防及改善

浅谈SOP测编一体机Double Unit的预防及改善

         

摘要

随着半导体行业的飞速发展,市场对半导体产品质量要求愈加严格,其中测试工序起着非常重要作用.为了能在当今激烈的半导体市场竞争中立于不败之地,质量对于半导体生产厂家来说是开拓市场、稳占先机的一把利剑.为了保证产品质量,在测试生产过程中针对Double Unit对质量影响的隐患,需要制定各类措施预防,防止因为Double Unit引发出各种质量问题,对企业造成重大损失.本文主要介绍和讨论了企业在半导体的生产过程中,改善、强化设备对于预防Double Unit的各种功能的过程及措施.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号