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CMC芯片架构及并行测试方法

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CMC芯片是面向工业控制领域开关量控制、模拟量控制、运动控制、信息采集、工业无线、低功耗和分布控制几个方面的片上控制系统,本文介绍CMC芯片的总体软硬件架构,并给出CMC芯片并行测试技术和方法.

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来源
《中国仪器仪表》|2015年第8期|22-24|共3页
作者
闫晓风; 刘丹; 刘敏;
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作者单位

机械工业仪器仪表综合技术经济研究所,北京100055;

机械工业仪器仪表综合技术经济研究所,北京100055;

机械工业仪器仪表综合技术经济研究所,北京100055;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类
关键词
CMC芯片; 芯片并行测试技术;
入库时间 2023-07-25 14:44:50

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