电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镍板中钴

摘要

cqvip:探讨了电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定镍板中钴的分析条件。试样经过硝酸、盐酸溶解,采用ICP-AES测定钴含量,镍的背景干扰采用背景校正扣除。确定了仪器的最佳分析条件,选择钴的分析谱线为228.616nm。该法已用于镍板样品中钴的测定,以钴标准溶液绘制工作曲线,测定结果的相对标准偏差(n=7)小于3%,加标回收率98%~101%。