广东生益在2012IEC／TC91年会上提交高频测试方法提案

摘要

“2012IEC／TC91年会”于2012年10月15至19日在日本福冈举行。中国电子技术标准化研究院曹易、广东生益蔡巧儿、葛鹰和王一作为中国代表团成员参加了此次年会。广东生益在此次年会上代表中国代表团提出并介绍了IEC提案《微波频率下覆铜板介电常数和介质损耗角正切值测试方法（分离介质柱谐振腔法）》，与会代表对此提案表现出极大的兴趣。