电离层高频斜向探测技术与选频应用

摘要

电离层探测是研究电离层特性和进行短波选频的重要手段之一,随着科学技术发不断发展,人类发明了各种各样的电离层探测方法,而电离层高频斜向探测,就是这众多探测方法中重要的一种.介绍了电离层斜向探测的基本原理、斜测电离图及应用,同时也对这种探测方法的优点和局限性进行了评述.