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浅谈国内集成电路自动测试设备(ATE)的发展

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摘要

本文涉及集成电路自动测试设备(ATE)的发展.具体探讨了国内ATE设备的发展思路,结合技术、市场、配套环境及用户环境几个方面进行了分析,结合作者实际工作经验,对如何突破国产中高端自动测试设备开发及应用给出了几点建议.

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来源
《商情》|2018年第35期|173,215|共2页
作者
胡忠臣;
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作者单位

上海御渡半导体科技有限公司;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类
关键词
集成电路测试设备; 先进技术; 高端人才; 配套环境;
入库时间 2023-07-24 15:21:13

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