颅面结构模板分析法的研究与应用

摘要

X线头影测量技术是研究颅面部生长发育和牙颌畸形机理的重要手段,传统的测量分析方法多限于测量局部的角度和线距值,而颅面结构模板分析法因其形象、直观、整体、快速的反映颅面部各部分结构的比例关系,广泛应用于临床,本文就颅面结构模板分析法的研究与应用进行综述.