X射线衍射技术对InSb材料的无损检测

摘要

采用20-ω对称扫描,对(111)、(333)、(044)不同衍射面进行了ω扫描,得到了InSb不同衍射面之间强度和半峰宽度的规律;对晶片上不同位置进行了同一衍射面的ω扫描,得到半峰宽度的mapping,此外,还对材料进行了倒易空间(RSM)扫描.测试结果表明InSb材料结晶质量完好,均匀性好,符合制造良好光电器件的标准.