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基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线

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半导体分立器件测试系统是提升半导体分立器件测试和封装企业自动化水平的一种重要的检测设备.介绍一种基于ARM微处理器S3C44BO的半导体分立器件测试系统测试主机系统总线的生成方法.在分析了测试系统的组成、S3C44BO的特点及测试主机系统总线性能要求后,完成了测试主机系统总线的生成.

著录项

来源
《自动化与仪表》|2007年第1期|74-78|共5页
作者
乔爱民; 戴敏; 史金飞;
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作者单位

蚌埠学院,机械与电子工程系,蚌埠,233000;

东南大学,机械工程系,南京,210096;

东南大学,机械工程系,南京,210096;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类计算技术、计算机技术;
关键词
ARM; S3C44BO; 测试主机系统总线; 半导体分立器件测试系统;

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