含32P硫片灼烧后32P的残留率

摘要

利用硫片的^(32)S(n,p)^(32)P核反应测量快中子通量是常用的简便方法。照射后的硫片通常要灼烧,以除去硫本身和副核反应产生的其他核素,^(32)P绝大部分留在残渣中。所以,用硫片测量快中子通量的准确性在很大程度上取决于灼烧后^(32)P残留率的准确性。Rein-hardt和Davis将硫片灼烧后残渣的^(32)P比放射性计数除以由外推到硫片重量为零时的^(32)P比放射性计数,得到灼烧后^(32)P残留率为92%。