一种高纯锗能谱测井仪相对效率刻度方法

摘要

介绍了一种用於多元素分析的高纯锗测井系统相对效率刻度的方法,即所谓“自刻度”方法。这种刻度方法仅依赖於被测对象自身的中子俘获γ射线谱,不需要任何标准样品或模拟刻度井,适用于任何高纯锗探测系统。该文给出了用自刻度方法得到的三个分析结果。