首页> 中文期刊>原子能科学技术 >内充气正比计数管测量 37 Ar 活度中壁效应的理论研究

内充气正比计数管测量 37 Ar 活度中壁效应的理论研究

     

摘要

通过分析37 Ar 衰变产生的X射线和俄歇电子在内充气正比计数管灵敏体积中的逃逸及计数管在37 Ar 活度测量中的壁效应,得出X射线在正比计数管中的逃逸是产生壁效应的主要原因,提出了压力指数外推方法.使用MCNP模拟X射线和俄歇电子在内充气正比计数管中的输运,模拟结果与理论分析结论一致.比较模拟得出的壁效应值与实验测量的壁效应值可知,实验给出的壁效应值是可信的.本工作的研究结果为37 Ar 测量方法提供了理论支持.

著录项

  • 来源
    《原子能科学技术》|2008年第12期|1077-1081|共5页
  • 作者单位

    中国工程物理研究院,核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院,核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院,核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900;

    中国工程物理研究院,核物理与化学研究所,四川,绵阳,621900;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TL811.2;
  • 关键词

    37Ar; 内充气正比计数管; 探测效率; 壁效应; MCNP程序;

  • 入库时间 2022-08-18 01:36:16

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号