质子在固体中的多次散射对PBS法分析Ti、Zr膜中D、T的影响

摘要

在对固体中的D、T进行PBS分析实验中,质子的多次散射影响不可忽略。本文采用简单的线性修正方法,通过数据分析获取质子在不同材料中,多次散射计数与道数的拟合线性关系,获得满意的修正结果,总的分析误差可控制在10%以内。