基于STM32与图像采集模块OV5640的物品表面缺陷检测仪设计

摘要

针对物品表面缺陷检测所面临的缺陷区和非缺陷区之间的低对比度、噪音与细微缺陷的相似度、检测偏慢和识别度较低等问题,设计了一种以STM32与OV5640为核心的便携式物品表面缺陷检测仪.本设计采用图像采集模块OV5640对物品表面快速帧扫描,将采集到的数据通过DMA方式传送给STM32F429存储,然后STM32F429对图像数据进行采样、频谱算法实现、结果提取等处理,最后将处理完的数据送液晶显示屏显示,并实现语音播报是否有缺陷.实验测试表明,这个设计可用于检测物品表面的污点、划痕、线与阴影等缺陷,其具有稳定性好、操作简便、处理速度快、实时性好等特点.