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基于V93k ATE的SoC芯片输出不稳定的测试方法

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摘要

分析表明,大多数SoC芯片是基于锁相环倍频外部时钟或内部时钟来运行的,而芯片之间的加工工艺存在细微差异,导致各个芯片工作可能的存在时序差异.即使同一颗芯片在不同的电压和温度的条件下,其工作时序也存在一定差异.针对芯片波形时序不稳定的情况,介绍一种基于V93k ATE的波形转换跟踪的测试方法.

著录项

来源
《集成电路应用》 |2020年第5期|43-45|共3页
作者
刘相伟; 唐昱; 唐丽; 刘安康;
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作者单位

成都三零嘉微电子有限公司四川 610041;

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成都三零嘉微电子有限公司四川 610041;

成都三零嘉微电子有限公司四川 610041;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
集成电路测试; 系统级芯片; 波形转换跟踪; 时序差异;

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