首页> 中文期刊> 《集成电路应用》 >单粒子翻转对医疗电子设备中FPGA器件可靠性的影响

单粒子翻转对医疗电子设备中FPGA器件可靠性的影响

         

摘要

医疗设备不仅会受到自然环境存在的宇宙射线攻击,而且还经常要在医院的辐射环境中工作,因此医疗电子设备设计人员在器件选型时必须要考虑器件的单粒子翻转影响。

著录项

  • 来源
    《集成电路应用》 |2011年第5期|38-40|共3页
  • 作者

    Minal Sawant;

  • 作者单位

    Microsemi公司;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号