首页> 中文期刊> 《电子技术应用》 >NIDays 2012再掀测试测量领域新浪潮 记NIDays 2012全球图形化系统设计盛会中国站

NIDays 2012再掀测试测量领域新浪潮 记NIDays 2012全球图形化系统设计盛会中国站

         

摘要

2012年11月16日.由美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)举办的一年一度的“NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站在北京万达索菲特大饭店圆满落幕。本届NIDavs吸引了近千名来自不同行业的工程帅和二十多家行业媒体到会.通过精心挑选的技术讲座、最新的产品与创新啦用展示、精彩的互动交流等环节,

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号