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强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应实验研究

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为研究强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应,在GTEM室内进行了辐照效应实验.实验表明,单片机系统在强电磁脉冲作用下,会出现"死机”、重启动、通讯出错和数据采集误差增大等现象.在实验基础上,对单片机系统的各种效应进行了深入研究.

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来源
《电子技术应用》|2001年第8期|9-11|共3页
作者
侯民胜; 陈亚洲;
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作者单位

石家庄军械工程学院静电与电磁防护研究所;

石家庄军械工程学院静电与电磁防护研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类微型计算机;
关键词
强电磁脉冲; 单片机; 辐照效应; 电磁兼容;
入库时间 2023-07-24 21:45:20

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