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测试系统中干拢及其形成机理

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摘要

阐述了测试系统中的各类干扰,并对其产生的原因作了较详细的分析.针对干扰的特性,指出了它们的危害范围及程度,以便于对其进行抑制,增强抗干扰的效果.

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来源
《电子技术应用》 |2002年第10期|44-46|共3页
作者
瞿曌; 刘文彦; 邓新中;
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作者单位

长沙大学电子技术与应用物理系,410003;

长沙大学电子技术与应用物理系,410003;

长沙大学电子技术与应用物理系,410003;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类自动化技术及设备;
关键词
测试系统; 干扰; 干扰源;

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