基质辅助激光解析电离飞行时间质谱分析合成聚合物样品制备的研究进展

代莉莉

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基质辅助激光解析电离飞行时间质谱分析合成聚合物样品制备的研究进展

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基质辅助激光解析电离飞行时间质谱(MALDI-TOF-MS)在合成聚合物的表征手段中具有不可替代的优点,可以提供聚合物的质量分布、嵌段长度、端基等信息.但由于合成聚合物的离子化效率通常不佳,因此样品制备是分析成功的关键.从基质、基质添加剂以及混样方式3个方面综述了MALDI-TOF质谱分析合成聚合物样品制备的研究进展.

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来源
《分析测试技术与仪器》 |2022年第4期|375-383|共9页
作者
代莉莉;
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作者单位

武汉大学科研公共服务条件平台;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类质谱分析;
关键词
聚合物; 基质辅助激光解析电离飞行时间质谱; 基质; 样品制备;

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