基于高加速应力筛选的电子产品筛选剖面研究

摘要

为了提升产品和工艺设计的质量,主要是为消除初期产品的失效率从而提高其平均无故障时间,进一步地节约产品成本,基于高加速应力筛选的剖面设计理论要求,针对电子产品通过具体失效分析和试验剖面设计优化,给出电子产品高加速应力筛选的一般性筛选剖面条件,可以作为各电子产品进行高加速应力筛选的参考依据,提升其筛选试验效率。