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王渊; 何维军; 赵福令;
大连理工大学精密与特种加工教育部重点试验室,大连,116024;
二维频谱分析; 采样条件; 碳纤维复合材料; 表面形貌;
机译:使用原子力显微镜测量的表面形貌测量可靠性的充足条件
机译:表面形貌测量条件对基于AFM的纳瓦型纳瓦型试验的影响
机译:宽带光学频率COM散射光谱(第2报告)表面形貌测量的基本研究:VIPA光谱系统衍射图像测量原理的验证
机译:表面形貌对聚醚醚酮和聚醚醚酮/碳纤维复合材料磨损的影响。
机译:高流量采样器在现场条件下可呼吸结晶二氧化硅测量的性能:初步研究
机译:增材制造的金属零件的X射线计算机断层摄影:放大和重建采样对表面形貌测量的影响
机译:一氧化氮的紫外吸收测量与模拟高度条件下涡轮发动机排气测量探头采样数据的比较
机译:通过研究表面形貌的方式陀螺空间的惯性测量
机译:测量测试仪和表面形貌测量装置的表面形貌的方法
机译:表面形貌光学测量系统及表面形貌光学测量方法
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