电子材料

摘要

cqvip:研究人员测量出低成本半导体近乎完美的性能斯坦福大学的研究人员专注于研究量子点重新发射它们所吸收的光时效率,这是衡量半导体质量的一个指标。之前对量子点效率的研究至多能推断出量子点的高性能,此次研究则首次给出了一种测量方法,使研究人员能够自信地证明量子点可以比肩单晶。