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刘远峰; 李斌成; 赵斌兴; 刘红;
电子科技大学光电科学与工程学院;
中国科学院光电技术研究所;
SIC; 亚表面缺陷; 光热辐射技术;
机译:位置调制共线光热检测技术在1064 nm处测量的低损耗光学材料的吸收
机译:光热偏转显微镜用于成像光学材料中的亚微米缺陷
机译:脉冲闪光热成像法表征周期性圆柱状亚表面缺陷
机译:用于金属亚表面缺陷检测的闪光热成像的有限元建模
机译:基于4H-SiC N型外延层和像素Cdznte单晶装置的高分辨率辐射检测器
机译:激光投影光热热成像法通过结构加热实现亚表面缺陷定位
机译:使用近场消逝波表征光学材料中的表面和亚表面缺陷
机译:非接触式光热辐射计量学和用于表征半导体晶片,光学材料和器件的仪器
机译:基于SiC和UV辐射检测器装置的制造紫外线辐射检测器装置的制造方法
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