首页> 中文期刊>电子学报 >单模光纤非本征损耗受包层模(LP_(1j))场形影响的研究

单模光纤非本征损耗受包层模(LP_(1j))场形影响的研究

     

摘要

本文应用耦合模理论,研究下述情况下,由单模阶梯光纤随机微弯所引起的非本征损耗:(1)不考虑纤芯对LP_(1j)场形的影响;(2)考虑上述影响。假设光纤随机微弯的自相关函数是高斯函数,本方法可推广用来研究光纤在其它几何畸变或折射率畸变时所引起的非本征损耗。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号