开端同轴线应用于无损检测的理论分析

摘要

基于测量待测物质在开端波导处的反射以确定其介电特性，由于无需制作样品而成为一种简便的无损检测方法，其关键是要确定反向系数与待测物质介电常数之间的对应关系。在本文中，应用并矢格林函数和特征模理论研究了同轴线开端处的电磁场。利用矩量法进行数值计算，得出介电常数与反射系数的数值对应关系。数值结果与有关文献的比较分析证实了理论分析的可靠性。