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直方图均衡化算法在微光枪瞄检测系统中的应用

     

摘要

微光枪瞄检测技术一直是军备生产者所关注的问题.由于振动、射击、冲击、跌落和高低温环境等载荷作用下,使微光枪瞄机械、光学结构和电性能参数发生改变,导致微光枪瞄不能正常工作和使用.为了解决上述问题,设计了多环境试验条件下的微光枪瞄检测与测试系统,给出了由CCD组成检测系统工作原理,利用直方图均衡化算法对微光枪瞄图像进行处理,并结合实际工程应用,其测量精度≤0.05mil,测量范围≥40mil,满足应用要求.

著录项

  • 来源
    《兵工学报》|2007年第10期|1205-1208|共4页
  • 作者单位

    南京理工大学,电子工程与光电技术学院,江苏,南京,210094;

    南阳理工学院,电子与电气工程系,河南,南阳,473004;

    南京理工大学,电子工程与光电技术学院,江苏,南京,210094;

    南阳理工学院,电子与电气工程系,河南,南阳,473004;

    南京理工大学,电子工程与光电技术学院,江苏,南京,210094;

    南京理工大学,电子工程与光电技术学院,江苏,南京,210094;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 光检测技术;
  • 关键词

    电子技术; 直方图均衡化; 微光枪瞄; 检测;

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