Stanford University.;
机译:评论:Saha和Nix的“基板对通过纳米压痕法测定薄膜机械性能的影响” [Acta Mater 2002; 50:23]
机译:除了表面纳米内狭窄:结合静态和动态纳米indentation,评估化学气相沉积非晶氧化硅(SiO_x)和氧化硅(SiO_XC_Y)薄膜的内在力学性能
机译:纳米压痕法测定Pb(Zr_(0.52)Ti_(0.48))O_3薄膜的真杨氏模量:薄膜取向和基底的影响
机译:基底对纳米划痕和纳米压痕技术测定薄膜硬度的影响:硬基底上的软膜和软基底上的硬膜情况的比较研究
机译:多晶钛酸钡薄膜的内在和与底物有关的特性。
机译:AFM纳米压痕和金纳米粒子包埋技术测量聚合物薄膜性能的比较
机译:二次谐波法适用于薄膜机械 纳米压痕的特性表征?是二次谐波法 适用于薄膜力学性能表征 纳米压痕?
机译:用纳米压痕技术测量软基材上硬膜力学性能的关键问题