University of Washington.;
机译:飞行时间二次离子质谱分析吸附蛋白膜的构象变化
机译:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)研究了D_2O冰表面吸附的CH_3OH的水合和H / D交换
机译:定量飞行时间二次离子质谱用于表征多组分吸附蛋白膜
机译:飞行时间二次离子质谱分析法分析吸附蛋白膜的构象变化
机译:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)和X射线光电子能谱(XPS)在研究遗传工程蛋白与贵金属膜之间的相互作用中的应用。
机译:飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在离子成像和俱乐部药物引起的认知缺陷的生物能分析中的综合应用
机译:高能量电池中LI表征的飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)的定量技术的研制。