University of Maryland, College Park.;
机译:使用电流不足的环形振荡器,根据天线层的类型评估等离子体引起的损坏和偏置温度的不稳定性
机译:放电等离子体烧结TiB_2-Ti基均相和双层复合材料的微结构发展,纳米力学和动态压缩性能
机译:通过应力诱导的机械屈曲不稳定性确定聚电解质多层膜的杨氏模量
机译:反应离子刻蚀和等离子体灰化过程中等离子体诱导的损伤对离子注入GaAs MESFET沟道层的影响
机译:紫外线暴露的聚苯乙烯中降解和交联的纳米力学和化学表征。
机译:限制在细胞内囊泡中的碳纳米管诱导脂质双层损伤的纳米力学机制
机译:通过应力诱导的机械屈曲稳定性确定聚电解质多层膜的荧光模量
机译:等离子体诱导损伤对离子注入Gaas mEsFET在反应离子刻蚀(RIE)和等离子体灰化过程中通道层的影响。