35kV开关柜内部放电原因分析及改造研究

摘要

金属铠装式开关柜的特点使得柜内设备的运行情况无法通过常规手段查看，如何有效检测开关柜内部绝缘转劣趋势状况，避免故障的发生是我们面临的问题。开关拒内部绝缘的劣化、接触不良等都将威胁着开关柜的安全运行，而这些威胁因素在中压开关柜正常运行情况下较难发现，所以研究开关柜损坏原因及对其采取相应的解决措施研究是迫切需要的。
　　本文介绍现阶段运用较为广泛成熟的暂态对地电压（Transient Earth Voltage）检测技术，对其进行理论分析，并从理论分析中对TEV检测方法进行总结，得出其物理规律。通过对多年来开关柜运行现状的分析，例举开关柜产生故障的典型案例，从而归纳总结开关柜损坏原因。运用成熟的TEV技术于现场试验中发现典型的开关柜缺陷，现场的测量结果也完全验证了TEV法的可靠性。

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第1章 绪 论

1.1中压开关柜应用背景和研究意义

1.2国内外研究现状

1.3项目基础及主要研究工作内容

第2章 TEV检测法原理分析及应用

2.1局部放电的产生原因

2.2 TEV检测法的理论基础

2.3 TEV检测方法

2.4 TEV检测法的应用

2.5 小结

第3章 开关柜缺陷及损坏情况分析

3.1中压开关柜运行现状

3.2开关柜典型故障分析

3.3开关柜故障原因分析

3.4 小结

第4章 开关柜缺陷的改造措施研究

4.1改造措施经验分析

4.2现场改造措施结果分析

第5章 结论与展望

参考文献

攻读硕士学位期间发表的论文

致谢

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