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第一章 绪论
1.1 指纹粗比对加速卡的研究背景
1.2 主要工作和章节安排
第二章 硬件描述语言VHDL与FPGA设计
2.1 VHDL语言的特性及优势
2.3 开发FPGA的原则和技巧
2.3.1 开发FPGA的几点原则
2.3.2 开发FPGA的一些技巧
2.4 StratixⅡ系列FPGA的特性和结构
2.4.1 StratixⅡ系列芯片的特点
2.4.2 StratixⅡ芯片的结构
第三章 核心比对模块的优化和改进
3.1 核心比对模块的总体框架
3.1.1 特征三角形比对
3.1.2 偏移量计算
3.1.3 细节点匹配
3.2 计数读取标识输出的边产生的改进
3.2.1 边产生模块的作用
3.2.2 原始设计的问题和相应的解决办法
3.2.3 改进后的特征边生成模块
3.3 特征三角形比对模块中并串转换模块的改进
3.3.1 进行并串转换的原因
3.3.2 原始并串转换模块的隐患
3.3.3 对并串转换模块的改进
3.4 对偏移量排序模块的改进
3.4.1 偏移量排序模块的功能
3.4.2 原设计存在的问题
3.4.3 新的偏移量排序模块
3.5 对细节点匹配模块的DFB缓冲的修改
3.5.1 细节点匹配模块的DFB缓冲的作用
3.5.2 原始设计的DFB缓冲存在的问题
3.5.3 新的DFB缓冲
3.6 对偏移量读取控制的改进
3.6.1 原设计的偏移量读取模块的问题
3.6.2 新的偏移量读取控制
3.6.3 新的偏移量读取控制与原设计的比较
3.7 对库指纹特征点读取控制的修改
3.8 比对结束信号生成模块matchover_gen
3.8.1 为什么用全‘1’的FID指示比对结束
3.9.2 matchover_gen的设计
3.9 存放匹配库指纹序号的FIFO的写控制模块fifo_write
3.9.1 fifo_write的作用
3.9.2 fifo_write的设计
3.10 对打分模块filter_marker的修改
3.10.1 打分筛选模块的作用
3.10.2 原设计中的filter_marker的问题及解决
3.11 对现场指纹特征点少于17个的求结构分模块filter_marker_total_grade的改进
3.11.1 filter_marker_total_grade的作用
3.11.2 原设计的fiter_marker_total_grade的问题
3.11.3 新的求结构分状态机
3.11.4 新的打分模块与原设计的比较
3.12 现场指纹特征点多于16个的打分模块fitler_marker_up的设计
第四章 片外SRAM控制器的设计
4.1 片外SRAM概述
4.2 片外SRAM控制器sram的整体规划
4.3 SRAM写控制模块sram_write
4.4 SRAM的读控制模块sram_read
4.5 SRAM核心控制模块sram_core
4.6 与SRAM的接口sram_sram
第五章 本地总线与9054的接口
5.19054概述
5.2 通信模式的选择
5.2.1 选择C模式的原因
5.2.2 C模式的工作流程
5.3 对PCB板布线的改动
5.4 本地总线上与9054的接口local_9054的设计
第六章 验证和测试结果
6.1 FPGA代码编译报告
6.2 与应用程序、驱动程序联合测试
6.2.1 测试程序的设计
6.2.2 测试结果
第七章 总结与展望
7.1 总结
7.2 展望
参考文献
致 谢
攻读硕士学位期间发表的学术论文
