致谢
摘要
1 绪论
1.1 频率合成简介
1.1.1 频率合成技术发展
1.1.2 频率合成主要技术指标
1.2 直接数字频率合成技术研究现状
1.3 本文主要工作
2 DDS相关理论
2.1 DDS基本工作原理
2.2 DDS结构
2.2.1 相位累加器
2.2.2 ROM查询表
2.2.3 DAC数模转换器
2.3 DDS的主要特点和应用
2.3.1 DDS的主要特点
2.3.2 DDS应用
2.4 DDS中的杂散分析
2.4.1 DDS杂散主要来源
2.4.2 杂散减小技术
2.5 常用ROM的压缩算法
2.5.1 查表计算法
2.5.2 ROM压缩算法比较
2.6 本章小结
3 基于Taylor级数的线性插值算法
3.1 泰勒级数
3.1.1 泰勒级数定义
3.1.2 正弦函数的泰勒展开式
3.2 泰勒级数的近似算法
3.3 泰勒级数线性插值算法
3.3.1 基于泰勒级数线性插值DDS的电路逻辑实现
3.3.2 仿真结果的分析
3.4 输出信噪比的仿真验证
3.5 本章小节
4 DDS电路设计
4.1 基于标准单元的ASIC设计流程
4.2 DDS的总体结构及性能指标
4.3 输入数据生成模块设计
4.4 地址产生模块设计
4.4.1 模式选择模块
4.4.2 频率调制模块
4.4.3 相位调制模块
4.4.4 地址选择模块
4.4.5 扰动产生模块
4.5 ROM模块设计
4.6 地址寄存模块设计
4.7 线性插值法模块设计
4.8 本章小结
5 DDS实现与验证
5.1 模块级验证
5.1.1 输入数据生成模块验证
5.1.2 地址产生模块验证
5.1.3 ROM模块验证
5.1.4 线性插值模块验证
5.2 系统级验证
5.3 基于FPGA的原型验证
5.3.1 FPGA验证优势
5.3.2 FPGA验证环境
5.3.3 FPGA综合结果
5.3.4 FPGA时序分析的结果
5.3.5 FPGA时序仿真
5.4 DDS综合
5.4.1 逻辑综合的流程
5.4.2 时序约束
5.4.3 DDS综合结果
5.5 门级仿真
5.6 布局布线和结果分析
5.7 本章小结
6 结论
参考文献
作者简历
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