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致谢
摘要
1 引言
1.1 论文背景
1.2 论文的主要研究工作
1.3 论文组织结构
2 验证技术概述
2.1 模拟验证技术概述
2.1.1 激励生成
2.1.2 覆盖率评估
2.2 形式验证技术概述
2.3 当前验证技术的局限性
2.4 新出现的验证技术
3 3D芯片概述
3.1 功能模块概述
3.1.1 Cortex-M3处理器概述
3.1.2 总线接口概述
3.1.3 其他功能模块概述
3.2 类ARM指令集介绍
3.2.1 指令集的发展
3.2.2 Thumb-2指令集概述
4 实验开发工具与环境
4.1 ISE介绍
4.2 Modelsim介绍
4.3 Keil MDK介绍
4.4 FPGA开发板概述
4.4.1 Kintex-7 FPGA KC705概述
4.4.2 模式配置
4.5 迪文显示屏
5 芯片模块验证
5.1 逻辑算数单元验证
5.2 NVIC模块验证
5.2.1 定时器SysTick验证
5.2.2 外部中断验证
5.2.3 中断使能除能验证
5.2.4 中断悬挂解悬验证
5.2.5 中断优先级验证
5.3 SPI模块验证
5.3.1 SPI I/O模式
5.3.2 SPI Flash模式
5.4 UART模块验证
5.4.1 UART发送数据
5.4.2 UART接收数据
5.5 小结
6 芯片整体性验证
6.1 Dhrystone程序验证
6.2 计算器程序验证
6.3 演示系统验证
6.4 小结
7 指令覆盖率分析
7.1 验证激励覆盖率评估
7.2 验证未覆盖到的指令
7.3 小结
8 结论
参考文献
作者简历
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