BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用

摘要

介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术——片内测试(BIST)。讲述了片上系统的由来以及两个重要特点。与传统的测试方法比较后,讨论了MemBIST、LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点,分析了这几种测试方法的优缺点。