并口存储芯片测试系统的设计与实现

目录

声明

第一章 绪 论

1.1 课题的研究背景与意义

1.2 本课题国内外发展现状

1.3 论文的研究内容与主要工作

1.4 本文章节安排与结构

第二章 新型存储器的工作原理与测试方法

2.1 半导体存储器的种类

2.2 新型非易失存储器的特点

2.3 存储器测试方法分类

2.4 接口的通信模式

2.5 存储器故障模型简介

2.6 存储器测试算法分析

2.7 本章小结

第三章 FPGA硬件设计和DDR4接口协议

3.1 并口存储器测试系统总体架构

3.2 测试系统FPGA主板介绍

3.3 待测新型存储芯片的结构与接口

3.4 本章小结

第四章 测试系统硬件架构与设计

4.1 硬件开发环境介绍

4.2 简介SOPC系统设计方法

4.3 测试系统硬件架构与模块功能

4.4 约束设计

4.5 硬件结果分析

4.6 本章小结

第五章 测试系统软件设计与结果分析

5.1 软件开发环境介绍

5.2 软件设计方法

5.3 测试系统的上板验证

5.4 本章小结

第六章 本文总结与展望

6.1 全文总结

6.2 后续工作展望

致谢

参考文献

攻读硕士学位期间取得的成果