应用UVM和直接编程接口提高集成电路验证重用性

目录

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致谢

1 绪论

1.1 课题研究背景

1.2 国内外研究现状

1.3 研究的内容与目的

1.4 论文的组织结构

2 UVM验证技术

2.1 UVM基础

2.1.1 UVM的通用验证组件

2.1.2 典型的UVM框架

2.2 TLM通信机制

2.2.1 TLM通信机制基础

2.2.2 TLM的通信方向

2.2.3 TLM的通信管道

2.3 UVM的工厂机制

2.3.1 工厂的意义

2.3.2 工厂提供的便利

2.3.3 工厂的覆盖方法

2.4.1 UVM的phase机制

2.4.2 UVM的config机制

2.5.1 寄存器模型基本概念

2.5.2 寄存器模型的集成

2.5.3 寄存器模型的常规方法

2.6 本章小结

3 APB-SPI子系统及直接编程接口

3.1 SPI控制器的研究

3.1.1 SPI控制器传输时序

3.1.2 SPI控制器的优缺点

3.2 APB总线的研究

3.2.1 APB总线的传输状态

3.2.2 APB总线的读写时序

3.3 APB-SPI子系统

3.3.1 APB-SPI子系统与片上系统

3.3.2 APB-SPI子系统的结构框图

3.3.3 APB-SPI子系统寄存器及接口信号

3.4 直接编程接口技术及应用

3.5 本章小结

4 可实现测试用例垂直复用的UVM验证平台设计

4.1.1 覆盖率驱动策略

4.1.2 验证计划

4.1.3 实现测试用例可复用的验证平台计划

4.2 APB-SPI子系统UVM验证平台的实现

4.2.1 APB-SPI子系统验证平台

4.2.2 APB代理组件的实现

4.2.3 SPI代理组件的实现

4.2.4 覆盖率模块的实现

4.2.5 寄存器模型的实现

4.2.6 记分板组件的实现

4.2.7 环境组件及其他组件的实现

4.3 UVM测试用例及C测试用例的实现

4.3.1 APB-SPI的完整验证平台的实现

4.3.2 测试用例的实现

4.4.1 测试用例重用思想

4.4.2 虚拟处理器方案

4.4.3 将虚拟处理器和验证平台集成

4.5 本章小结

5 实验结果及测试用例分析

5.1.1 验证工具描述

5.1.2 Makefile仿真脚本简介

5.2 典型测试用例分析

5.2.1 UVM测试用例分析

5.2.2 C语言测试用例分析

5.2.3 总覆盖率结果

5.3 本章小结

6 工作总结与展望

6.1工作总结

6.2 工作展望

参考文献

攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况