基于DES理论的数模混合电路可测试性研究

摘要

该文在DES理论的框架下对模混合电路可测试性中的几个关键问题进行研究,并针对最小测试集的求取算法进行了理论上的探讨.该文的主要工作如下:(1)对数模混合电路的数学模型进行了研究,并对其可行性进行了验证.这样使得数字和模拟电路能够在一个统一的数学框架中进行可测试性分析和后续处理.(2)编写了一套基于DES理论的电路测试和演示软件,实现了对被测电路的可测试性判断、故障覆盖率和最小测试集求取的算法,能够实现对电路测试的各项功能.(3)以可编程逻辑器件为核心进行了一些典型数字电路的故障模拟仿真试验,并建立相应的电路故障测试集数据库,为这些电路的可测试性研究提供数据.(4)针对目前电路最小测试集求取算法的一些不足,提出了一种利用模拟退火策略的组合优化的算法,并对这种算法进行了一些理论上的探讨.

目录

文摘

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致谢

第一章序言

1.1可测试性技术的产生与发展

1.2数字电路测试技术的现状和发展

1.3离散事件系统理论的介绍

1.3.1离散事件系统理论的研究背景

1.3.2离散事件

1.3.3离散事件系统

1.4本论文研究的目的和意义

第二章数模混合电路测试的数学模型

2.1数模混合电路的可测试性

2.1.1电路的可测试性

2.1.2电路的最小测试集

2.1.3电路的故障隔离率

2.2电路测试理论的应用示例

2.3 DES理论在数模混合信号电路测试中的应用

第三章基于DES理论的电路测试系统演示软件系统

3.1测试软件包的模块结构

3.2算法流程和算法的复杂度

3.2.1 TEST——可测试性模块

3.2.2 INFD——“最精细”分区模块

3.2.3 MINOES——最小测试集模块

3.2.4算法的复杂度

3.3电路测试的实验演示系统

3.4演示软件系统的设计的小结

第四章测试故障诊断数据库

4.1可编程逻辑器件的基本原理和设计流程

4.1.1 FLEX 10K系列器件的性能特点

4.1.2可编程逻辑器件的设计

4.2数字电路故障仿真

4.2.1故障电路模块设计

4.2.2故障诊断数据的建立

4.3数模混合电路的故障仿真

4.4测试诊断数据库试验和设计的小结

第五章电路最小测试集的优化算法

5.1电路的最小测试集

5.2模拟退火算法

5.2.1几种优化算法的介绍

5.2.2模拟退火算法的寻优机制

5.3最小测试集的优化算法

5.3.1最小测试集寻优过程的一些数学模型

5.3.2优化算法过程

5.3.3模拟退火算法的收敛性

5.4本章小结

第六章总结与展望

6.1论文主要工作内容总结

6.2可测试性技术的未来发展趋势[20][21][22]

6.3基于DES理论的数模混合电路可测试性研究中的不足

参考文献

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