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基于DES理论的数模混合电路可测试性研究

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摘要

近年来出现的离散事件系统(DES)理论为数模混合电路的测试提供了一种新的解决思路,本文对DES理论在求取数模混合电路的可测试性和最小测试集中的应用进行了论述.该种方法可以在计算机上用C++语言实现.

著录项

来源
《微计算机信息》|2003年第2期|54-55|共2页
作者
章其波; 鲁昌华; 蒋薇薇;
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作者单位

230009,安徽省,合肥市,合肥工业大学313#;

230009,安徽省,合肥市,合肥工业大学313#;

230009,安徽省,合肥市,合肥工业大学313#;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类自动化系统;
关键词
散模混合电路; 离散事件系统; 可测试性; 最小测试集; 故障覆盖率;
入库时间 2022-08-18 05:50:08

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